台式XRF光谱仪丨无卤素合规性筛查丨薄膜分析EA1280

• 快速RoHS/ELV合规性筛查：能快速检测电子电气设备及其原材料中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯及其醚等有害物质的含量，帮助企业确保产品符合RoHS和ELV等相关环保指令的要求，可广泛应用于电子电器制造、汽车制造等行业。
• 无卤素合规性筛查：可对产品中的氯、溴等卤素元素进行检测，助力企业满足无卤素标准要求，常用于塑料、橡胶、印刷电路板等材料的检测。
• 薄膜分析：能分析薄膜材料的元素组成和厚度，例如金属薄膜、镀膜玻璃等，在电子、光学、材料科学等领域有广泛应用。
• 快速材料识别：通过对材料的元素分析，快速识别材料的种类和成分，可用于原材料检验、废料回收等场景，帮助企业快速判断材料是否符合生产要求，提高生产效率。
• 多用途材料分析：适用于各种材料的元素分析，包括金属、合金、塑料、陶瓷等，为材料研发、质量控制、失效分析等提供重要的元素组成信息。

仪器功能

• 有害物质检测功能：专为RoHS（有害物质限制）分析设计，可快速检测电子电气设备及其原材料中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯及其醚等有害物质的含量，也能检测RoHS拓展元素Sb、Sn、Cl，且较以往机型检测性能有所增强。
• 多元素分析功能：测量范围为13Al～92U，可对多种元素进行定性和定量分析，适用于 RoHS 筛查和通用分析，如无卤素合规性筛查中的氯、溴等卤素元素分析，以及薄膜分析、快速材料识别、多用途材料分析中的各种元素检测。
• 自动测量功能：样品测量可选择单一位置或12位置转盘，实现自动采样，能对多个样品进行自动连续测量，提高检测效率。
• 样品观察功能：配备彩色CCD相机，可用于观察样品，便于准确选择测量位置，以及查看样品的外观和状态。
• 灵活校准功能：能根据新的RoHS标准和法规要求进行灵活校准，确保仪器的测量准确性和合规性。

仪器特点

• 操作简便：仪器配备易用软件，界面直观，样品装载简单，结果以易于理解的格式呈现，操作人员经过简单培训即可使用。
• 测量快速：具有较高的灵敏度，可实现快速测量，如常规RoHS筛查中，塑料样品测量时间小于35秒，黄铜样品测量时间小于170秒，能有效提高检测效率，满足批量生产企业的需求。
• 无损分析：采用X射线荧光分析技术，对样品进行非接触、无损伤分析，不会破坏样品的结构和性能，可对珍贵或易损坏的样品进行检测。
• 大样品舱设计：样品舱尺寸为304mm（宽）×304mm（深）×110mm（高），可容纳较大尺寸的样品，如塑料 molded items 或 laptop computers 等，无需将样品拆分，方便对整体样品进行分析。
• 运行成本低：几乎不需要耗材，在空气或者氮气下实现优化的探测技术，减少了对昂贵的氦气的需求，降低了仪器的运行成本。
• 结果可靠：采用高性能SDD（硅漂移检测器），具有中国国家标准（GB标准）建议要求的检测器分辨率，工作效率和分析准确度更高，能为企业提供准确可靠的检测结果。
• 视听测量指示器：具备视听测量指示器，可在测量过程中通过声音和灯光提示操作人员，方便了解测量状态和结果。